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测试系统构建完整指南

测试策略对于降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率至关重要。阅读测试执行维护、软硬件抽象层、热分析和开关等方面的最佳实践,确保您掌握构建更智能测试系统所需的基础知识,以便满足当今和未来的各种需求。通过本完整指南,了解从头到尾构建完整测试系统的推荐过程。 >>立即下载完整指南
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2017自动化测试趋势展望

《自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。 测试工程师和管理人员所面临的重大挑战之一是保持处于测试发展趋势的前沿。 NI对技术发展趋势具有广泛的认识,并与来自众多行业的公司有较深入的互动,从而对测试和测量市场形成了独到的见解。 >> 立即下载
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NI SMU - 电性能测试的最佳选择

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。 >> 进入了解详情
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业界领先性能的模块化数字万用表

在灵活高效的PXI平台上,模块化的数字万用表将会具有更快的测试速度,更强的可自定义性,更优化的成本,更小的尺寸。是实验室特性研究中精确测量设备电压、电流、电容、电感和温度必不可少的仪器。资源包包括NI数字万用表优势、选用技巧、案例分析等。 >> 立即下载资源包
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