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奥普特—AOI 外观脏污检测

2023/3/28 17:21:13

  应用描述

  采用线阵16K相机、背光加拱形光方式,对芯片表面进行拍摄,然后软件Blob分析脏污。视野大小:60 mm 。精度要求: 0.005 mm 。