当前位置:会议介绍 > 会议基本信息 首届国际电子测试与测量专业研讨会 测试与测量技术是信息产业的三大关键技术之一,随着中国电子信息产业的飞速发展,测试测量技术及相关的仪器仪表已成为信息化带动工业化的重要纽带。当前我国有各类仪器仪表企业6000余家,年销售额约1000亿元,已形成门类较齐全,具有一定技术基础和生产规模的工业体系。另据统计,2002年进口电子测试测量仪器达到56亿美元,充分显示了国内市场对电子测量测试产品的巨大需求。 展望21世纪,以集成化、数字化、智能化、网络化为代表的高端仪器产品渐成新秀,电子测量仪器行业面临着新的发展机遇与挑战。为了进一步促进现代电子测试技术的发展,给业内人士提供一个面对面交流和探讨电子测试技术的机会,中国电子器材总公司联合中国电子仪器行业协会将在全国电子产品展览会(以下简称NEF)同期举办“首届国际电子测试与测量专业研讨会”。 研讨会将邀请政府行业主管领导介绍电子测试与测量的产业政策和宏观发展态势;邀请国内外业界专家作专题技术报告;并邀请国内外仪器仪表厂商和电子测试与测量专业技术人员就当前业内的热点、难点等问题作实质性的探讨和研究。为配合本届电子测试与测量专题研讨会的召开,在第62届NEF上专门开辟仪器仪表专区,荟萃了国内外300余家著名仪器仪表厂商的最新产品。 NEF自1964年以来,已成功举办了61届,是国内历史最久、规模最大,唯一得到信息产业部和商务部支持的专业电子展会,系亚洲电子展览联盟成员,与日本电子展、韩国电子展、台湾电子展、香港电子展并称为亚洲五大电子展会。 NEF组委会依托40年累积的客户资源,并邀请航空、航天、船舶、兵器、核工业、电子研究院所、大专院校等单位专业听众参加技术讲座。这次盛会必将成为您了解、评估、比较、选择自身业务发展的新产品、新技术、解决方案及服务的最佳平台! 会议地点: 上海光大会展中心国际大酒店8号厅 会议时间: 2003年11月19日-20日 会议主题: 新型电子测试测量技术 会议宗旨: 促进中外技术交流,振兴民族电子测试与测量技术 展览会时间: 2003年11月18日-21日 上海光大会展中心 |