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[过期]下一代自动化测试系统的必备技术

日期:2008/10/01 (星期三) 2008/10/29 (星期三) 地点:深圳

简介: 
  本次研讨会将会探讨下一代自动化测试系统发展的趋势和需求,并提出以软件为中心的模块化的架构,以构建灵活可扩展的、可靠的测试系统,进一步提升系统的吞吐能力,降低系统的投资。内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务以及强大的PXI/PXI Express平台和模块化的I/O,并通过实际的产品和案例逐一介绍从直流到射频的多种功能测试。 
   
  本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计: 
  自动化测试测量工程师、研究人员和架构师 
   
  您将通过本次研讨会: 
  如何构建软件定义的模块化的自动化测试系统  
  如何满足客户对测试系统高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求  
  深入了解声音振动测试、视频测试、数字信号测试、射频测试、高速数字化仪以及电压、电流、功率等测量应用  
   
  涉及的产品/应用/演示包括: 
  LabVIEW,TestStand,DIAdem  
  PXI/PXI Express平台,从直流到射频的各类模块化硬件 
   
  时间地点: 
  10/28 深圳 14:00-17:00  
  深圳凯宾斯基酒店3楼K3&K4厅(深圳市南山区后海滨路海德三道)

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