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[过期]NI 下一代自动化测试系统的必备技术

日期:2008/12/30 (星期二) 2008/12/30 (星期二) 地点:上海

简介:
作为一个测试工程师或相关领域管理人员,非常需要了解下一代自动化测试系统发展的趋势和需求,本次研讨会就以此为探讨主题,详细介绍创新性的以软件为中心的模块化系统架构,来构建灵活可扩展的、可靠的测试系统,从而进一步提升系统的能力,降低系统的投资。本次会议内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务软件以及强大的PXI/PXI Express平台和模块化的I/O,并通过实际的产品和案例逐一介绍从直流到射频的多种功能测试,包括这种虚拟仪器技术在汽车、航空等领域的具体应用和案例。

本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计:
自动化测试测量工程师、研究人员和架构师

您将通过本次研讨会:
如何构建软件定义的模块化的自动化测试系统
如何满足客户对测试系统高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求
深入了解声音振动测试、视频测试、数字信号测试、射频测试、高速数字化仪以及电压、电流、功率等测量应用

涉及的产品/应用/演示包括:
LabVIEW,TestStand,DIAdem
PXI/PXI Express平台,从直流到射频的各类模块化硬件

用户案例介绍:
Flextronics基于NI平台的产线测试解决方案
欧洲粒子物理研究所(CERN)粒子加速器

相关介绍:
关于PXI平台:
PXI (PCI eXtensions for Instrumentation)― 一种专为工业数据采集与自动化应用度身定制的模块化仪器平台。它将CompactPCI的集成式触发功能于Windows操作系统结合在一起,能帮助您花费更少,完成更多,抢先完成任务。当您使用开放式PXI平台时,由于得益其基于计算机的硬件和熟悉的Windows环境,您的测量与自动化应用将花费较少,完成更多,抢先完成任务。

关于模块化仪器:
National Instruments的模块化仪器,集成了紧凑型、高性能测量硬件和灵活的测量软件。模块化仪器硬件:运用包括ADC,DAC,FPGA以及PC总线在内的最新商业技术。模块化仪器软件:如NI LabVIEW,包括了基于内置软件的测量和多种复杂的分析功能。通过使用模块化仪器,测试与设计工程师们只需选择合适的硬件模块以及在工业标准的软件,就可以创建用户自定义的测试测量系统来符合各自不同的测量需求。

时间地点:
12/30 上海 14:00—-17:00
上海新锦江大酒店4楼兰花厅(卢湾区长乐路161号)

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