简介：
您是否面临过测量噪声带给您的困扰？众所周知，测量噪声是影响信号采集精度的重要因素之一，而测量系统周边的电厂、磁场、无线电波等噪声源都会大幅度影响测试结果，同时线缆的选择、信号调理（隔离与抗混叠）、测试电路的设计也是测量精度是否满足要求的关键所在。因此，如何有效地降低测量噪声，从而提高测量精度，成为了工程领域的当务之急。
本讲座中，NI工程师将为您精讲提高测量精度的七大技巧，从选择合适的传感器、隔离技术到基于软件的信号处理，结合生动有效的应用演示，让您全面受益，确保您测试测量应用的成功！
本次研讨会为以下工程师精心设计：
您将通过本次研讨会了解到：
时间和地点：
2009/05/12 杭州 14:00 - 17:00 具体地点以电话确认为准
涉及的产品/应用/演示包括：
NI LabVIEW — 功能强大的图形化开发平台
NI 数据采集（DAQ）产品 — M系列数据采集卡 + USB便携式数据采集产品 + Wi-Fi无线数据采集产品
