牛津仪器在庐山举行了2008年度的用户研讨会

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http://www.gkong.com 2008-08-04 11:13 来源：仪器仪表信息网

2008年7月21日到25日，牛津仪器纳米分析仪器部在庐山举行了2008年度的用户研讨会。此次会议邀请到来自全国各地超过100位用户，专家，学者以及牛津的新老朋友。

牛津仪器亚太区销售经理Jonathan Bryon 和区域售后主管David Craig分别致了开幕词，牛津仪器中国区首席代表张鹏对牛津仪器集团作了全貌介绍，牛津仪器纳米分析仪器部的销售经理冯骏和售后服务经理陆先慧为大家介绍了2008年分析仪器部各方面的进展和状况。

会议还邀请到了很多专家学者一起分享经验，杨银祥教授：硅漂移探测器发展历史及其最新进展，赵文霞老师：能谱仪在材料科学中的应用实例，牛津仪器焦汇胜：薄膜材料成份和厚度的能谱分析，中科院硅酸盐所李香庭：EDS定量结果解读及误差分析，标乐公司李明：EBSD样品制备技术，青岛科技大学张乾：纳米铜粒子在乙炔聚合过程中的形变，核工业理化分析寇益强：超高强铝合金模锻件开裂原因分析，株洲钻石刀具公司高跃红：INCA软件在梯度硬质合金涂层切削刀具中的应用，崇义章源钨制品杨迈莉：梯度硬质合金刀片的扫描电镜观察等。

庐山用户研讨会圆满的结束，各位同仁们，思想滚滚地渡过了愉快的一周，诚邀各位用户明年继续参加我们的会议！再续友谊！

牛津仪器在庐山举行了2008年度的用户研讨会

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