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NI PXI矢量网络分析仪,帮助半导体和移动设备制造商降低测试成本

http://www.gkong.com 2012-12-04 12:14 来源:美国国家仪器(NI)有限公司

   ·NI矢量网络分析仪(VNA)凭借其快速自动化测量、功能强大的仪器结构和经简化的测试系统开发过程,可降低测试成本。
    ·新的NI PXI Express模块集成了高级矢量网络分析仪的测量功能,形成基于 PXI 的测试系统,其中包括了高精度直流、高速模拟和数字测量等应用

    2012年12月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布了NI NI PXIe-5632 VNA,它经进一步优化,可帮助工程师满足日益复杂的射频测试要求,而其成本、尺寸和使用所需时间仅是传统堆叠式解决方案的极小一部分。 新的PXIe VNA基于创新型的双源架构,频率范围为300 kHz至8.5 GHz,拥有独立调整的源代码和源接入循环,可适用于众多不同的测量应用
 

   “NI在射频和微波仪器上持续大力投入,将PXI的应用领域扩大至高端应用。”NI射频研究和开发副总裁Jin Bains表示, “NI PXIe-5632矢量网络分析仪功能丰富,可显着降低网络测量成本,尤其是针对那些需要高度精确、快速和小封装测量的大批量自动化测试的应用。”
 
    产品特征

·   双端口,3槽PXI Express矢量网络分析仪,频率范围为300 kHz至8.5 GHz 。
·   功率范围较宽,为-30dBm到+15 dBm,调节步长为0.01dB,用于测量有源设备的压缩和S-参数。
·   带有源接入循环的双源架构,可实现脉冲S参数测量和扩展源功率范围。
·   频偏功能使用独立调整的源代码,实现对频率转换器件和热S-参数的测量。
   
    通过NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行业领先的编程接口,可简化编程并加快测试开发速度,同时保证射频测量质量。

   欲知更多,请访问http://www.ni.com/vna/zhs/
 
    关于NI

    自1976年以来,美国国家仪器,简称NI(www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来,NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展,确保客户、员工、供应商及股东获得成功。
 
LabVIEW、National Instrument、NI和ni.com为美国国家仪器有限公司(National Instruments)的商标。 此处提及的其它产品和公司名称均为其各自公司的商标或商业名称。

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