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NI推出专利、省时的EVM测量技术 ——新技术利用快速收敛交叉校正来提高测量速度和准确性

http://www.gkong.com 2022-06-22 14:03 来源:NI

  NI今天宣布了一种快速收敛的交叉相关性测量技术,以无线局域网(WLAN)信号提供一流的误差矢量大小(EVM)性能。这项新技术使用专利技术,使工程师能够提高关键EVM测量的准确性和测量速度。这项新技术允许WLAN设备制造商保证规格合规性和最先进的性能,同时加快上市时间。

  WiFi7或IEEE 802.11be标准的演变通过更广泛的信道带宽、更高的频谱效率和4096-QAM等高阶调制方案,为消费者提供了数据吞吐量的显著改善。WiFi7还为WLAN设备制造商引入了新的技术要求,并要求WLAN系统和组件实现更严格的射频性能要求。

  新WiFi7设计最具挑战性的射频性能测量之一是宽射频带宽的EVM测量。为了应对这一挑战,NI引入了一种多仪器测量技术,该技术利用了两个NI矢量信号收发器(VST)。该方法利用交叉相关信号处理来提高测量精度并实现WiFi7性能规范。该新技术实现了专利技术,允许工程师根据场景将执行极高动态范围、宽带宽测量的时间减少高达100倍的时间,具体取决于具体情况。结果减少了产品表征时间,使测试工程师能够加快上市时间。本文描述的EVM测量技术受美国专利号10,841,019和美国专利出版物编号:20220065972的保护。

  NI全球资深产品总监章晨说:“随着Wi-Fi7技术推动不断提高的射频性能水平,NI继续创新新的测量技术,使我们的客户能够达到最先进的性能,同时提高测试时间和制造产量。”“NI新的专利快速交叉相关测量技术使我们的客户能够保证行业领先的射频性能——并在加快上市时间的同时做到这一点。”

  除了提高测量性能外,以软件为中心的PXI自动测试系统还提供了行业领先的灵活性和可扩展性。通过将NI从DC到mmWave的完整仪表平台标准化,工程师可以减少整体表征时间,同时增加测试覆盖率。这允许NI客户提供更高的产品性能,同时加快产品开发工作流程。

  如果您想亲身体验NI的交叉Correlation技术,NI将于6月19日至24日在丹佛举行的IEEE微波研讨会,展位为5020。

  本文描述的EVM测量技术受美国专利号10,841,019号“调制质量测量交叉校正测量”和美国专利出版物20220065972的保护,该专利号为“基于交叉校正质量测量的快速收敛方法”。

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