系统优点
检测颗粒≥1um
自动测量并计算出单个颗粒的面积、宽度、内切圆、分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等尺寸
高精度XYZ三轴自动扫描台，可执行自动聚焦功能
高分辨率专用数字采集系统500万级别以上CCD摄像头
单张滤膜检测及5μm以上颗粒的扫描时间和评价时间最小1分钟
自动调节光强、自动聚焦、多视场自动扫描、自动采集图像、自动颗粒统计分析
自动辨别金属颗粒、非金属颗粒
自动查询最大颗粒的粒径和数量
在硬件支持条件下软件终身免费升级服务
参数阐述
型号：PLD-MPCS2.0~10.0
仪器性能：测试范围: 1-500μm系统放大倍数：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）
重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）
数字摄像头(CCD)：300万像素
标尺刻度：0.1μm
分析项目：粒度分布、长径分布、圆形度分布等
自动分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%
软件运行环境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
