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日本TAKEX竹中晶片映射传感器ASW-SG625AP
产品概述：
•稳定检测SiC晶片、蓝宝石晶片、硅晶片、半透明晶片等
•支持6812英寸晶片
•支持半透明晶片的检测模式装备( 812英寸用)
•防止梳部静电破坏( 6812英寸用)
产品规格：
检测对象：晶片种类6英寸晶片（透射率30%以下）
检测通道数：25ch
间距：4.76mm
检测方式：透过型
梳形部分：装卸式
操作电源：DC12～24V±10%波纹10%以下
消耗电流：250mA以下
动作模式：暗开
异常输出：异常时ON
输出模式：NPN开路集电极输出
额定：漏电流30A（DC30V）以下
响应时间：10ms以下
投光用光源（波长）：红外LED（830nm）
投光停止输入
再示教兼用：开路集电极输入或接点输入投光停止ON:1.5V以下OFF：4V以上
ON时停止投光
OFF时再次示教
输出停止输入：开路集电极输入或接点输入输出停止ON:1.5V以下OFF：4V以上
连接方式：带连接器的电线拉出式 3m
材质：传感器单元（梳）：聚碳酸酯、外壳：铝
重量：约330g
附件：使用说明书
使用环境温度：-10～＋55℃（未结冰）
使用环境湿度：35～85%RH（非冷凝）
保护结构：IP40
使用周围照度：1500lx以下
耐振动：10～55Hz双振幅0.5mmX、Y、Z方向各2小时
耐冲击：300m/s²X、Y、Z方向各3次
相关型号：
ASW-SG85F
ASW-SG85F-Y05
ASW-SG86F
ASW-SG86F-Y05
