首先,消除表面干扰层对检测的影响。样品表面易附着油污、灰尘、氧化皮、锈蚀、涂层、指纹等污染物,这些物质会形成物理阻隔层,阻挡 X 射线穿透至目标样品本体,导致荧光信号衰减,同时污染物自身含有的元素会引入虚假信号。例如钢铁表面的氧化皮会引入 O 元素,干扰 Fe、Cr 等核心合金元素的含量计算;电子元件表面的灰尘可能携带 Na、Ca 等元素,导致轻元素检测结果失真,严重时会造成元素误判或含量偏差超出允许范围。
其次,确保检测信号反映样品真实状态。XRF 的检测原理是通过 X 射线激发样品原子产生特征荧光,进而分析元素组成与含量。若表面存在污染物,仪器检测的实际是 “污染物 + 样品本体” 的混合信号,而非目标样品的真实元素信息。尤其是在镀层厚度测量、贵金属纯度检测、有害物质筛查等高精度需求场景中,表面污染物会直接导致测量值偏离实际值,例如镀金件表面的油污会使金层厚度检测结果偏薄,贵金属表面的氧化层会降低纯度检测的准确性。