测量原理 物位测量
Levelflex 是基于 ToF (行程时间)原理工作的“俯视式”测量系统。对参考点至介质表面间的距离进
行测量。高频脉冲信号被发射至探头，并沿探头传播。脉冲信号在介质表面发生反射，反射信号
被仪表接收，并被转换成物位信息。此测量方法即为 TDR 法(时域反射法)。
介电常数(DC)
介质的介电常数(DC)直接影响高频脉冲信号的反射率。测量大介电常数(DC)的介质时(例如：水和
氨水)，高频脉冲反射信号强；相反，测量小介电常数(DC)的介质时(例如：碳氢化合物)，脉冲反
射信号弱。
输入
脉冲反射信号沿探头传输至仪表后， 由其中的微处理器进行信号分析，识别出高频信号在物料表
面真正的反射回波。仪表使用的信号识别算法(PulseMaster®软件)凝聚了 30 余年基于行程时间技
术的测量经验。
测量参考点至介质表面间的距离(D)与脉冲信号的运行时间(t)呈比例关系：
D = c • t/2
其中，c 为光速。
空标高度(E)已知时，物位(L)的计算公式如下：
L = E – D
测量参考点(R)在过程连接处。请参考外形尺寸示意图：
• FMP51：(→ 63)(→ 64)
• FMP52：(→ 66)
• FMP54：(→ 67)
Levelflex 具有干扰回波抑制功能，可以由用户自行激活。该功能确保了干扰回波(例如：内部装置
和焊缝产生的干扰回波)不会被误识别为真正的物位回波。
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