HGJDZ-E介电常数介质损耗测试仪是依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作，并符合JB 7770等试验方法。
介电常数介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
介电常数介质损耗测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。采用了多项领先技术：
1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6. DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7. 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
介电常数介质损耗测试仪技术参数
Q 值测量范围： 2～1023 ， 量程分档： 30、100、300、1000，自动换档或手动换档
固有误差≤5％±满度值的2 ％（200kHz～10MHz），≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差≤7％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围： 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围：1 ～ 200pF
主电容调节范围： 18 ～ 220pF
主电容调节准确度：120pF以下±1.2pF ； 120pF以上±1％
信号源频率覆盖范围： 100kHz～160MHz
频率分段（虚拟）： 100～999.999kHz ， 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz， 100～160MHz
频率指示误差： 3×10-5±1个字
测试夹具参数：
平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
电感组参数：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
相关介绍
介电常数又称电容率或相对电容率，是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力，例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度，宏观的介电常数的大小，反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1，液体、固体的介电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关。
一些物质介电常数具有复数形式，其实部即为介电常数，虚数部分常称为耗散因数。
通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切，其可表示材料与微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。
介电常数介质损耗测试仪适用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
介电常数介质损耗测试仪应用
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