BJ2984A 半导体分离器件测试仪
BJ2984A 半导体分离器件测试仪 产品特点：
BJ2984A 半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不 带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻；对以壳温Tc为参考点带热器使用的大功率晶体二极管，当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后，亦可确定其稳态热阻。
BJ2984A 半导体分离器件测试仪 技术指标：
测试功率： 0~10W （1.999V/5A）
（1） IF：0~5A（分8档）
（2） VF：数字表：0~1.999V
（3） M数字表：0~ —4.00mV / ℃
（4） △VF数字表：0~999 mV
（5） 脉宽τ：1mS~1000S（分七档）
脉宽扩展：τ×1、τ×2、τ×5
