EZx X 射线检测-EZx X 射线 -

Goring Kerr EZxTM杂质检测系统可检测诸如金属、玻璃、石块、塑料以及其它致密异物，且价格极具优势。该系统对采用新型金属膜或铝箔包装的生产线特别具有吸引力，非常适合在填充和密封工序之后连接安装。Goring Kerr EZx 杂质检测系统可实现产品100%检测，并立即识别出杂质，使客户快速采取纠正措施。

Goring Kerr EZx 杂质检测系统在设计时考虑到金属探测器客户，很容易学会且使用非常便捷。利用内置Quicklearn向导，用户可在数分钟内完成一种新产品的设置。该系统可自动选定应如何为用户生成和处理一幅图像。而且，当该系统运行之后，显示屏将立即显示出一台直观的红色/绿色指示灯状态监视器，以及简洁的汇总统计数据。

与其它X射线系统不同，Goring Kerr EZx平台在工程设计上用于在可找到金属探测器的一般环境中工作。该系统配有多种孔径规格和生产线高度；可在很宽的温度范围内工作；满足IP65防尘防水标准相关要求；设备安全性能符合最严格的X射线辐射标准。虽然Goring Kerr EZx杂质检测系统极其可靠，但如果出现问题，其模块化设计也可大大缩短维修时间。

特性和优点：

在X射线系统设计上让客户享受最低成本的最优化配置
独特的X射线设计，可消除盲点
通过IP65标准认证
可按多个规格定购机器孔径
通过屏幕检测结果，非常直观
非常适合快速增长的新型铝箔或金属膜包装
利用QuickLearn向导，用户可在数分钟内完成设置

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