膜厚仪-膜厚仪膜厚测试仪镀层测厚仪-

应用：英国牛津CMI900 X射线镀层测试厚仪，有着非破坏、非接触、

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多层镀层测量，高生产力、高在现性等优点的情况下进行表面

镀层厚度的测量和元素分析，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业：用于电镀、线路板（PCB）、元器件、连接器、汽车零部件、

半导体、、、、、、多个行业表面镀层厚度的测量和元素分析。

配置规格

描述

X射线发射系统

垂直下照式（从上往下发射光源）X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、 Mo、 Ag、等

功率：50W

装备有安全防辐射光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度任选

准直器

单个准直器

多准直器自动交换系统，最多可同时装6个

多个准直器尺寸任选：圆形：0.1、0.15、0.2、0.3、0.5mm等矩形：0.025*0.05、0.05*0.05、0.025*0.25、0.05*0.25、0.1*0.4等

样品室

开槽式样品室：深600mm*宽350mm*高160mm

最大样品台尺寸

610mm*610mm

XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制，XY轴手动控制和Z轴程序控制，XYZ三轴手动控制

XY轴控制移动范围

标准：152.4*177.8mm还有5种任选

z轴程控移动高度

43.18mm

样品观察系统

高分辨率彩色CCD观测系统，标准放大倍数30倍；50倍、100倍任选

激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置

IBM联想计算机，惠普喷墨打印机

分析应用软件

操作系统：windowsXP或windows2000

分析软件包：Smart Link FP软件包

测量厚度范围

可测量的厚度取决于你的应用

基本分析功能

采用基本参数法校正，牛津仪器将根据您的应用提供必要的标准样品

可检测元素范围：元素周期表上22元素~92元素，即Ti~U

可以同时测5层镀层，同时分析15种元素，共存元素校正

贵重金属检测，如Au kara评价

材料和合金元素的分析

多达4个样品的光谱同时显示和比较

元素光谱定性分析

校正功能

系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

操作语言

中文（繁、简体）、英语、日语、韩语、法语、德语、西班牙语、俄语

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