可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机概要：
主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障。
可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机特点：
1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点
2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，手机程序监管及兼容MES数据交互
3.智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置于饱和蒸汽压力检知
4.白金温度传感（PT-1OO型）感知精确温度
4.棋置形圆形内箱结构设计，方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置
5.全自动真空清洁程序，减低试品污染
可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机规格：
|
型号
|
J-PCT-40
|
J-PCT-60
|
J-PCT-80
|
|
容积/L
|
40
|
60
|
80
|
|
整体尺寸
（W*H*D） cm
|
900x1800x1120
|
以图纸为准
|
以图纸为准
|
|
温度范围
|
（RT+20）℃~250℃
|
|
温度控制范围
|
105～℃+150℃
|
|
湿度范围
|
100%RH
|
|
温度上升时间
|
100min （从常温到120C且温度到达85%RH的时间）
|
|
温度偏差
|
≤±1.5℃（空载）
|
|
温度均匀度
|
≤±1.5℃（空载）
|
|
压力波动均匀度
|
±0.1kg
|
|
电源
|
AC220V或AC380V
|
