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可靠性试验-饱和加速寿命试验机

产品名称：

可靠性试验-饱和加速寿命试验机

型　　号：

J-PCT

价　　格：

0.00

品　　牌：

产品介绍：

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机概要：

主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障。

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机特点：

1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点

2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，手机程序监管及兼容MES数据交互

3.智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置于饱和蒸汽压力检知

4.白金温度传感（PT-1OO型）感知精确温度

4.棋置形圆形内箱结构设计，方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置

5.全自动真空清洁程序，减低试品污染

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机规格：

型号	J-PCT-40	J-PCT-60	J-PCT-80
容积/L	40	60	80
整体尺寸（WHD） cm	900x1800x1120	以图纸为准	以图纸为准
温度范围	（RT+20）℃~250℃
温度控制范围	105～℃+150℃
湿度范围	100%RH
温度上升时间	100min （从常温到120C且温度到达85%RH的时间）
温度偏差	≤±1.5℃（空载）
温度均匀度	≤±1.5℃（空载）
压力波动均匀度	±0.1kg
电源	AC220V或AC380V

关键词：

可靠性试验

公司简介
 产品目录
 解决方案

公司名称：	合肥巨阙电子有限公司
联系人：	谭冬平
电　　话：	0551-65582838
手　　机：	19159127537
地　　址：	高新区明珠产业园3号楼2层
邮　　编：	230000
主　　页：

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