在电子电路中,温度一直是一个非常重要的参数,绝大多数器件的可靠性都和其温度特性相关。哪怕是极其微小的器件温度变化,都可能对电子电路的运行造成很大的影响,而过热则很大概率引发主板故障。如何在体积日渐变小的电子元器件中精准发现温度异常?非接触检测的热像仪是个不错的选择!
红外热像仪应用在电子行业中,可以用来实现集成电路检测,如低压电路板温度检测、高温箱电路板设计检测;实现半导体材料缺陷检测,如太阳能电池板缺陷检测、硅锭质量检测;实现芯片级微距检测,如LED芯片检测;实现电子电气设备检测,如激光器质量检测、光纤质量检测等。
热像仪:及时发现电路板设计的故障
在电路板设计的过程中,为保证电路板工作顺利进行,设计人员需要对电路板中的电子元器件进行温度检测,观察元器件的温度负载情况,以免出现短路、断路和接触不良等情况。
在电路发生短路的过程中,电路板上肯定会有局部温度过高的情况出现,断路则会产生局部的温度会比其他地方低的情况,所以利用这一点就很容易通过引入红外热像仪判断电路的故障点。
用户可选择使用FLIR T560高清红外热像仪,640×480的红外分辨率加FLIR专利技术MSX®(专利号:201380073584.9)和专有自适应滤波算法,可清晰显示电路板上元器件温度的分布情况,如果需要进一步确认,还能通过手动精准调焦,清晰地观察高温点故障元器件类别和位置。
微距模式:帮助看清小体积器件的温差
现如今电子产品尺寸日益微缩,最常见的表面贴装式PCBA部件的尺寸范围可从0603(1.6mm×0.8mm)到最小的0201(0.6mm×0.3mm)。普通的热像仪也许很难分辨其细小的温差,为精确测量这些部件的温度,您需要空间分辨率更加精细的检测。如果选购一款如此极致分辨率的热像仪费用会很高,但菲力尔可提供更优惠的解决方案!
微距模式下的PCBA红外热成像
配备标准24?镜头和微距模式的FLIR T560专业红外热像仪可以轻松达到71µm的光斑尺寸,且无需更换镜头。在此条件下,T560能够针对尺寸为1.6mm×0.8mm的微小零部件进行精确的温度测量以及红外热成像。
FLIR的微距模式是一项创新功能,能够帮助研发、质量保证以及其他专业人员实现PCBA及其他电子产品部件测试的灵活性。搭配标准24?镜头可以用于检测更大范围或者整个PCBA。一旦发现热点或者更小范围的待测区域,启用微距模式可以实现更深入的检测及热成像分析,且无需更换镜头。
专业软件:简化工作流程
在电子电路研发设计中,引入红外热像仪,对电子电路功耗设计和研究、散热效果分析、PCB布局优化、产品质量检测等方面有着不小的助力,但大量检测结果的整理,对于研发人员来说也是不小的工作量,对此菲力尔设计了专门的分析和报告软件——FLIR Research Studio。
FLIR Research Studio有一个混合选项,可以将热图像和可见光图像相结合,用一个简单的滑块通过温度分界线调整可见光与红外的比例,直到它刚好适合您的需要。
FLIR Research Studio能为各种研发应用场景提供强大的记录和分析功能。可同时显示、记录和评估多个FLIR热像仪的数据,让您能够快速解读和理解关键信息。它还具有多语言和多平台支持 (Windows、MacOS、Linux),可改善团队成员之间的协作、提高效率,并有助于减少因翻译不佳而产生错误解读的可能性。
红外热像仪通过对物体表面的热(红外电磁辐射)分布成像与分析,能够快速发现物体的热缺陷。目前已广泛应用于检测PCB电路板、芯片、LED、新能源电池与节能、充电桩等各种电路和设备,是电子工程师做热分析的必备工具。
FLIR T560专业红外热像仪
搭配Research Studio专业软件
可在电子电路设计测试的各个流程中
提供简便、快捷、精准的检测结果
为电子、航空航天、生命科学等
广泛应用领域的研究人员和工程师
提供极大的便利
您在研究的过程中遇到过哪些温控难题?
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FLIR专业人员会为您一对一回访解答
当然您也可以拨打官方客服电话
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关于Teledyne FLIR
Teledyne FLIR是Teledyne Technologies旗下子公司,是国防和工业应用智能传感解决方案的优秀领先者,在全球拥有约4000名员工。公司成立于1978年,一直专注于设计、开发、生产、营销和推广用于增强态势感知力的专业技术。通过红外热成像、可见光成像、视频分析、测量和诊断以及先进的威胁检测系统,帮助专业人士做出更好、更快的决策,拯救生命,改善生活。欲了解更多信息,请访问www.flir.cn 或关注“菲力尔”微信公众号。
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