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理解光谱仪和单色仪的工作原理
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Fastie-Ebert光谱仪配置如左下图所示,其中包含一个平面光栅和一个较大的凹球面反射镜。光通过输入狭缝后由凹面镜准直,然后打在光栅上,而特定级次的衍射最后由球面镜的另一部分聚焦至屏幕、探测器阵列或输出狭缝。

Czerny-Turner配置如右上图所示。它以F-E配置为基础,但是用两个小凹面镜代替单反射镜,因此提供更灵活的光学布局,比如紧凑的交叉或折叠光路(左下图),而且能校正特定波长处的某些像差。不过,由于球面元件限制,C-T配置无法校正像散和球差,因此高精密应用通常采用非球面凹面光栅,将所有光学元件的功能集成在单个元件中,以此校正特定波长处的所有像差(右下图)。

光谱仪和单色仪的工作方式

光谱仪(spectrometer)主要有两种工作方式,下面以C-T配置为例说明:

  • 摄谱仪(spectrograph):第二个凹面镜的焦平面处为线阵探测器,每个像素接收特定窄波长范围内的光,只需一步就能测量整个光谱。把探测器换成屏幕就可直接观察光色散谱。如果探测器/观察屏没有合适的曲率,光谱图像将出现中心清晰、外围模糊的问题,由此限制分辨率。

  • 扫描式光谱仪:第二个凹面镜的焦平面处为另一个狭缝,即输出狭缝,因此只有波长范围很窄的光才能通过。这种装置叫做单色仪,其结构如下图所示。为了选择不同的波长,可移动输出狭缝和探测器或旋转光栅。

Thorlabs EDU-SPEBCT1/M扩展套件以EDU-SPEB2/M光谱仪套件为基础搭建C-T装置,利用旋转光栅和第二个狭缝实现单色仪功能。

对于扫描式光谱仪,输出狭缝后面会放置一个光电探测器,两者之间通常还有一个聚焦透镜。为了采集光谱,可以微小步长改变通过输出狭缝的波长,同时记录探测器在每个波长处测量的强度。单色仪相比使用阵列探测器的摄谱仪(spectrograph)能实现更高的精度,但测量时间明显更长。

旋转光栅方程

由于单色仪通过光栅旋转选择波长,因此需要确定光栅旋转角和波长的关系。虽然单色仪无法选择单一波长,但为简化起见,以下计算仅针对中心波长。

下面第一图展示了周期常数为𝘥的光栅衍射,其中λ为波长,α为入射角,β为一阶衍射角。这两个角度都以光栅表面法线为参考:位于法线顺时针方向的光线角度为负;请参考下面的符号规则图示。

因此,入射光和一阶衍射光的夹角为:θ = β - α

利用光栅凹槽密度𝘨 = 1/𝘥将其改写成:𝘬 · λ · 𝘨 = sin(β) + sin(α)

利用光栅凹槽密度𝘨 = 1/𝘥将其改写成:𝘬 · λ · 𝘨 = sin(β) + sin(α)

利用β = θ + α继续改写成:𝘬 · λ · 𝘨 = sin(θ + α) + sin(α)

考虑这样一个旋转光栅单色仪:入射光为白光,而且光栅前后的光路保持固定,即θ保持固定,因为两个狭缝保持固定。当光栅旋转时,通过输出狭缝的波长λ将随入射角α而改变,因此上式确定了两者的关系。

由于θ是实验装置常数,我们称之为装置角度。它可通过直接测量确定,还可利用已知波长的测量结果反推,但下面将介绍一种更巧妙的校准方法。

首先,如左上图所示,旋转光栅使零级反射光通过输入狭缝,这样就确定了0°入射角。然后,如右上图所示,旋转光栅使零级反射通过输出狭缝。通过光栅旋转位移台的刻度盘可确定θ。这是因为零级反射角β等于−α𝘤𝘢𝘭,由此可得:

θ = β - α = -2 · α𝘤𝘢𝘭

角色散和线性色散

角色散可用𝘥λ/𝘥β表示不同波长通过光栅衍射产生的角度间隔。如左下图所示,所有波长的光以相同角度α入射光栅,但出射角β各不相同。我们利用前面的光栅方程对β求导可算出角色散:

线性色散可用𝘥λ/𝘥𝘹表示不同波长在输出狭缝平面(即聚焦反射镜焦平面)的长度间隔。如右上图所示,光栅两个点上都发出两条不同波长的光线;两个波长分别为λ和λ + 𝘥λ,其衍射角相差𝘥β。相同波长的光线通过光栅衍射后互相平行,然后由反射镜聚焦。

图中使用𝘥𝘹表示红色和绿色光线的焦点间距,可根据三角函数并利用小角度近似计算:

𝘥𝘹 = 𝘧₂ · 𝘥β

结合角色散公式可算出线性色散:

分辨率和带宽

分辨率和带宽都可用于描述光谱仪分辨相邻谱线的能力。如果测量连续光谱,带宽表示可隔离的光谱宽度。在分析理想单色光源时,理想光谱仪的输出应为相同的单色谱线,但实际光谱仪的输出谱线总是有一定宽度,也叫做仪器带宽,此处用Δλ表示。

连续光谱可看作包含无数条单色谱线,而测量光谱为光源光谱与波长相关仪器带宽的卷积。仪器带宽通常源自四个因素:

  • 输入狭缝图像在输出狭缝平面上的宽度

  • 输出狭缝的宽度

  • 光栅衍射

  • 像差

每个因素的影响可在忽略其它因素的条件下测量对应的仪器带宽,而总带宽为所有影响因素的卷积。下面分别介绍这些因素。

狭缝宽度

由输入狭缝引起的仪器带通形状通常为矩形,其宽度等于输入狭缝图像在输出狭缝平面上的宽度乘以线性色散。同样地,由输出狭缝引起的仪器带宽等于输出狭缝宽度乘以线性色散。下面展示了以λ₀为中心的输入和输出狭缝带宽。

对于前面介绍的C-T配置,参考上一节中的角色散图示,输入狭缝的图像宽度可用下式计算:

其中𝘸𝘦𝘯为输入狭缝的宽度,两反射镜的焦距比表示输入狭缝的图像放大率,而余弦比表示垂直和平行于光栅的两个平面的放大率差异。

两个狭缝宽度的总体影响是两个狭缝的卷积,其半高宽(FWHM)等于输入或输出狭缝的带宽,取两者的最大值。为了在不增加带宽的情况下提供最大通量,输出狭缝宽度应等于输入狭缝的图像宽度。此时,卷积函数的半高宽为:

上式可代入线性色散公式进行简化:

光栅衍射

在无限窄狭缝且无像差的条件下,仪器带宽为光栅产生的衍射图案,其宽度可通过光栅的分辨能力推导(其中𝘬为衍射阶数,𝘕为被光照射的光栅线数):

像差

为了避免色差,大多数光谱仪采用反射镜而非透镜。虽然通过优化几何结构可减小球差、像散和彗差,但无法完全消除。比如,在C-T配置中,第一个反射镜导致的某些像差可被第二个反射镜抵消。像差通常会增加仪器带宽。

扩展量(Étendue)和现实问题

 

每个光学系统都有其可接受的最大光束尺寸,由几何扩展量𝘎表示。对于锥形光束:

其中𝘈是光源或系统中任意光阑的面积,Ω是锥形光束在光阑处的张角。光学系统中每个元件都有一个扩展量(参考下面C-T装置的光路),而最小值就是整个系统的扩展量。这意味着从光源开始,随着新元件的加入,系统的扩展量只可能降低但无法提高。

在理想情况下,所有元件的扩展量将保持守恒,但这在现实情况中可能不现实,因为:

  • 如果光源面积非常小,比如光纤输出,那么光源的扩展量非常小,即使张角很大。系统的扩展量因此受限于光源。

  • 如果光源面积非常大,比如LED芯片或汞灯,那么光源扩展量在典型张角条件下也会很大,但光谱仪所有元件可能无法具有同样大的扩展量,因为这要求焦距非常短(严重增加像差)或直径非常大(提高成本和尺寸)。

对于第二种情况,在设计光谱仪时,通过输入狭缝的光应全部被反射镜和光栅收集,此时输出狭缝宽度等于输入狭缝的图像宽度。这意味着系统扩展量受限于输入狭缝的扩展量。

如果光谱仪带宽受限于狭缝宽度,根据前面的公式:

这说明如果要求光谱仪具有窄带宽,光谱仪应使用长焦距准直反射镜和高密度光栅。但是,长焦距会增加光谱仪尺寸,而高密度光栅会提高成本。

在确定系统的几何结构后,光谱仪的可调参数只有狭缝宽度。因此,给定装置的分辨率只能通过减小狭缝宽度来实现,但这必然会降低扩展量和信号强度。反过来,提高信号强度必然要增大带宽并牺牲分辨率。由于线性关系,为了将分辨率提高一倍,两个狭缝宽度都要减小一半,从而导致探测器强度降低一半。

当然,通过减小狭缝宽度优化仪器带宽不是无限制的,因为达到一定程度后,限制因素将变成像差或光栅衍射。

 

 


 

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