一个成功的VLSI设计.少不了一个完备的测试, 芯片测试工作是一个严密和系统的工作。[dt_gap height="5" /]
芯片测试应该包括两个含义.一个是流片前各个设计阶段作品的测试；另一个是流片后对实际芯片的测试。这里主要是指流片前的芯片测试，这样的测试实际上是对 芯片功能的一个全面验证，在设计团队中与芯片设计并列的一项工作。这项工作需要一个周密的像芯片测试计划，一个具有针对性的芯片测试平台。[dt_gap height="5" /]
芯片测试计划是保证测试成功的基础，测试计划包括时间、地点、任务等内容.其重点是測试覆盖率的计算、设计和执行。理论上覆盖率的定义是，测试5覆盖率= 测试到的逻辑组合数/逻辑组合总数。在实际操作中,通常根据需要重新定义测试瘦盖率。指定计划的原则是尽量早发现错误，越早发现错误需要重新做的修改丁作 就越少,效率也就越高。把这个概念上升到测试原则来认识对于制定计划和测试操作都会有好处。[dt_gap height="5" /]
芯片测试平台以仿真工具软件包为核心，软件包提供一个完整的仿真环境，包括测试文件、标准测试向量文件（Test-Vector File)、标准数据文件(Data File）和一些必要的辅助程序，如在芯片测试数据输出文件和标准数据文件之间进行比较、报错.如图1所示。芯片测试文件设置基本测试环境，调入被测试模块和标准测试向量文件进行测试，输出测试结果，并与标准数据文件进行比较。如果出现错误，通常需要在仿真丁具软件包提供的时序波形上进行査错。

图1 仿真与测试