STO1400光耦测试仪
陕西天士立科技生产的STO1400光耦测试仪，可测试各类光耦参数，如单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，线性光耦、高速光耦，等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间toff/ton”等。陕西天士立科技。
一、光耦测试仪·产品信息
产品型号：STO1400
产品名称：光耦测试仪；
制造厂家：陕西天士立科技有限公司
通联编号：Phone-029-8822-5591-Mr.Wang
主机尺寸：深305*宽280*高120(mm)
主机重量：＜5Kg
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续。
二、光耦测试仪·产品介绍
STO1400光耦测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界面友好、操作简洁的单机测试仪器。专为各类光耦参数测试而设计开发，可测试各类单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，高速光耦，线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降 VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间”......可测具体参数数值也可以进行筛选性测试，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400光耦测试仪产品前面板设有“显示屏区域”“操作按键区域”“接口区域”。基于飞思卡尔 16 位单片机编程的操作程序包含测试程序编辑、程序调用、数据保存、功能类型等常规设置。10 档位分档设计，耐压测试电压 1400V/可扩展，测试正向压降和输出电流可达 1A/可扩展
三、光耦测试仪·应用场景
1、测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试，主要功能为曲线追踪仪）
2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
6、替代进口（STO1400光耦测试仪可替代同级别进口产品）
四、光耦测试仪·产品特点
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方便简单.
※ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
※ 全部可编程的DUT恒流源和电压源.
※ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
※ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1400V.
※ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题.
※ 软件自校准功能
※ 自动模式:自动检测有无DUT放于测试座中,有则自动处于重复测试状态,无则处于重复检测状态.
※ 手动模式：刚开始未测试时屏幕白屏属正常现象，当测试开关按下后才自动对测试座中的DUT进行检测测试，长按开关不松开则处于重复测试状态,松开开关则自动停止测试。
※ 基于大规模微处理器设备,当用户选定了设置好的型号时,在手动测试时,按下测试开关,使测试机开始执行功能检测,自动测试过程将在STO1400的测试座上检测DUT短路,开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试.功能测试主要保护DUT不被因型号选错而测坏元件，
※ DUT的功能测试通过过,LCD显示出DUT的引脚排列(P_XXX),
※ 测试方式(手动/自动)并继续进行循环测试,显示测试结果是否合格,并有声光提示.
※ 在测试时,能自动识别引脚功能,并自动转换矩阵开关进行参数测试.测试后显示对应引脚功能号
五、光耦测试仪·测试种类及参数
5.1、可测试的光耦类型
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分类方式
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具体分类
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光路径
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外光路光耦（透过型和反射型）
内光路光耦
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输出形式
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光敏器件输出型光耦
NPN三极管输出型光耦
达林顿三极管输出型光耦
逻辑门电路输出型光耦（门电路输出型，施密特触发输出型，三态门电路输出型等）
低导通输出型光耦
光开关输出型光耦
功率输出型光耦（IGBT/MOSFET等输出）。
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传输信号
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数字光耦（OC门输出型，图腾柱输出型及三态门电路输出型等）
线性光耦（可分为低漂移型，高线性型，宽带型，单电源型，双电源型等）。
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开关速度
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低速光耦（光敏三极管、光电池等输出型）
高速光耦（光敏二极管带信号处理电路或者光敏集成电路输出型）
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不同通道
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单通道光耦
双通道光耦
多通道光耦
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隔离特性
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普通隔离光耦
高压隔离光耦
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工作电压
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低电源电压型光耦
高电源电压型光耦
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封装形式
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同轴型
双列直插型
TO封装型
扁平封装型
贴片封装型
光纤传输型
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5.2、引脚定义
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极
5.3、测试参数
- 正向电压 VF
- 正向电流 IF
- 击穿电压 VR
- 反向电流 IR
- 输出低电平电源电流 ICCL
- 输出高电平电源电流 ICCH
- 使能端高电平电压 VEH
- 使能端低电平电压 VEL
- 使能端高电平流 IEH
- 使能端低电平流 IEL
- 输出端高电平电压 VOH
- 输出端低电平电压 VOL
- 输出端高电平电流 IOH
- 输出端低电平电流流 IOL
- 电流传输比 CTR
- 输出上升时间 Tr
- 输出下降时间 Tf
- 上升传输延迟时间 tpLH
- 下降传输延迟时间 tpHL
5.4、参数定义
- VF：IF: 光耦输入正向VF压降时的测试电流.
- Vce:Bv:光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
- Vce:Ir: 光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
- CTR:IF:光耦传输比时输入端的测试电流。
- CTR:Vce:光耦传输比时输出端的测试电压。
- Vsat:IF:光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
- Vsat:Ic:光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
低配版·STO1400光耦测试仪
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耐压
BVCEO/BVECO
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测试范围0-1400V
分辨率1V
精度<2%+2RD
测试条件0-2mA
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输入正向压降
VF
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测试范围0-2V
分辨率2mV
精度<1%+2RD
测试条件0-1000mA
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输出端反向漏电流
ICEO
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测试范围0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
测试条件BVCE=25V
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反向漏电流
IR
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测试范围0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
测试条件VR=0-20V
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电流传输比
CTR
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测试范围0-9999
分辨率1%
精度1% +5RD
测试条件BVCE：0-20V
测试条件IF：0-100mA
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输出导通压降
VCE(sat)
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测试范围0-2.000V
分辨率2mV
精度1% +5RD
测试条件IC：0-1.000A
测试条件IF：0-1.000A
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高配版·STO1400光耦测试仪
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序号
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参数名称
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符号
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测试范围
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分辨率和精度要求
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1
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正向电压
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VF
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0～20V
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量程±100V、±1000V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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|
2
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正向电流
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IF
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0～60mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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3
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击穿电压
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VR
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-20V～0
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量程±1000V的分辨率和精度
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4
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反向电流
|
IR
|
-10mA～0
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量程±40mA ±4mA、±400μA、±40μA 、±4μA的分辨率和精度
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5
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输出低电平电源电流
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ICCL
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0～5A
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量程 ±4，±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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6
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输出高电平电源电流
|
ICCH
|
0～5A
|
量程±4A,±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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7
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使能端高电平电压
|
VEH
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0～20V
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量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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8
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使能端低电平电压
|
VEL
|
0～20V
|
量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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9
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使能端高电平流
|
IEH
|
0～10mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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10
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使能端低电平流
|
IEL
|
0～10mA
|
量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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陕西天士立科技有限公司研发生产的STO1400光耦测试仪，可测试各类光耦，如单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，高速光耦，线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO”、“输入正向压降VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”、“电流传输比 CTR”、“输出导通压降 VCE(sat)”“开关时间toff/ton”等陕西天士立科技有限公司。
