半导体分立器件静态参数测试仪系统
陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多电子元器件的静态直流参数和IV曲线（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on)）以及IV特性曲线等
一、产品信息及规格
产品型号：STD2000
产品名称：半导体分立器件静态参数测试仪系统
主机尺寸：深660*宽430*高210(mm)
主机重量：＜35kg
主机功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超过 4000m；
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度： 20%RH～75%RH (无凝露，湿球温度计温度 45℃以下)；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
二、产品特点
三代半：优秀的性能应对第三代半导体及传统器件，Si, sic,GaN 器件
测试品类：覆盖 25 类常见的电子元器件及 IC 类，且支持定制扩展
功能丰富：轻松表征元器件“静态特性”“IV 曲线”“Cxss”“CV”
分析筛选：功能全面，配置丰富，胜任实验室场景中各类电参数表征
量产测试：1h高达 7K~12K 的测试效率，可连接“分选机”“编带机”Prober 接口、16Bin
一键加热：一键脉冲自动加热至+130°C，耗时< 1s
高压源：1400V (选配 2KV)
高流源：40A(选配 100A,200A,500A)
驱动电压：20V/10uA~100mA (选配+40V/10uA~100mA)
漏电测量：1nA 漏电持续稳定测量，表现出优秀的一致性和稳定性，更有1.5pA 微电流测量选件可供选择。
高精度：16 位 ADC/DAC，0.1%精度，1M/S采样速率
程控软件：基于Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面
夹具工装：适配各类封装形式的器件，自动识别器件极性 NPN/PNP
校准：系统自带校准软件，也可通过 RS232 接口连接数字表进行校验
三、测试范围
01. Diode / 二极管（稳压、瞬态、三端肖特基、TVS、整流桥、三相整流桥）
02. BJT / 三极管
03. Mosfet & JFET / 场效应管
04. SCR / 可控硅（单向/双向）
05. IGBT / 绝缘栅双极大功率晶体管
06. OC / 光耦
07. Relay / 继电器
08. Darlington tube / 达林顿阵列
09. Current sensor/电流传感器
10. 基准IC(TL431)
11. 电压复位IC
12. 稳压器（三端/四端）
13. 三端开关功率驱动器
14. 七端半桥驱动器
15. 高边功率开关
16. 电压保护器（单组/双组）
17. 开关稳压集成器
18. 压敏电阻
19.电压监控器
四、测试参数
漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、IIN(Regulator)
关断参数：VGSOFF
触发参数：IGT、VGT
保持参数：IH、IH+、IH-
锁定参数：IL、IL+、IL-
增益参数：hFE、CTR、gFS
间接参数：IL
混合参数：RDSON、gFS、Input@Output / Regulation
五、应用场景
1、测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试，主要功能为曲线追踪仪）
2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
6、替代进口（半导体分立器件静态参数测试仪系统可替代同级别进口产品）
六、性能指标
