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如何降低电子产品研发失败率?FLIR Axxx系列科研套件严控实验温度

  在电子产品测试领域,由于测试程序不当,而导致的产品召回以及返工,会带来难以承受的损失。那么如何在实验室产品测试环节保证产品进行全面的温度监控,及时发现产品的设计缺陷,从而避免由测试程序不当而带来的巨大损失呢?

  

  答案在这里:热像仪是一种非接触的测温仪器,通过对物体表面的热(温度)分布成像与分析,能够快速发现物体的热缺陷。用在电子行业,可以广泛应用于检测PCB电路板、芯片、LED、新能源电池与节能、充电桩等各种电路和设备,是电子工程师做热分析的必备工具。

  FLIR Axxx系列科研套件开箱视频

  今天小菲给大家推荐一款

  电子元器件研究专用热像仪

  FLIR Axxx系列红外热像仪科研套件

  其可以简化温度测量工作

  可为电子、航空航天、生命科学等

  广泛应用领域的研究人员和工程师

  提供极大的便利

  近期该系列科研套件新增

  FLIR A500红外热像仪科研套件

  以让用户拥有更多的选择

  出色分辨率,精准定位故障

  PCB板上元件众多,如果有短路、击穿、焊接不良等故障,排查和定位需要丰富的经验,同时耗时较多。借助红外热像仪,维修人员可以将故障电路板的热像图和正常热像图比对,定位温度异常的元器件,再有针对性的测试,可显著提高工作效率。

  

  FLIR Axxx系列红外热像仪科研套件主要在红外热像仪分辨率上略有不同,其中FLIR A400的分辨率为320x240,A500的分辨率为464x348,A700的分辨率为640x480,搭配出色的测量精度(<±2℃)和<30mK至<50mK的热灵敏度(因镜头而异),可准确检测出细小温差,精准定位电子元器件的故障点。

  标准套件:满足基本科研需求

  当电子系统发生故障时,需要合适的工具来快速识别故障或短路。非接触式热成像可以帮助您直观地定位问题区域,以加快故障排除和验证维修的速度。

  

  标准套件以FLIR Axxx系列红外图像流热像仪为基础,标配24°镜头,或者搭配FLIR FlexView双视场镜头,可实现“1个镜头2种视场角”,瞬间从广域视场切换到长焦视场,而无需更换镜头,提高研发检测的效率。其支持FLIR微距模式,能看清大部分元器件的状况,可轻松满足多数研究和开发应用的需要。

  专业套件:看清更小的目标

  随着元件体积的不断缩小,面临的发热问题急剧增加。设想一下,从尺寸约为9”×13”的VXI电路板至智能手机仅几百微米的单个元件,普通的热像仪也许很难分辨其细小的温差,幸好FLIR Axxx系列专门开发了更精密的专业套件!

 

  FLIR Axxx系列红外热像仪专业套件搭配可见光镜头,支持MSX®(专利号:201380073584.9)图像增强功能,可更清晰地辨别测试目标组件。其还提供2倍变焦微距镜头,在卸下标准24°镜头之后安装,最小对焦距离为18mm,可精准测得小型组件红外数据。

  FLIR Axxx系列红外热像仪科研套件让用户可以使用FLIR Research Studio软件简单的“连接?查看?记录?分析”工作流程,为研发场景快速获取和分析红外测量结果。

 

  扫描二维码,获取更多Axxx资料

  FLIR Axxx系列红外热像仪科研套件

  可为电子元器件的研发和维检提供解决方案

  其能精准记录研究过程的温度测量结果

  标准和专业两种套件

  满足了众多用户的个性化需求

  想知道你的科研过程适合哪款套件?

  点击“阅读原文”填写需求

  FLIR专业人员会为您提供单独解决方案哦~

  关于Teledyne FLIR

  Teledyne FLIR是Teledyne Technologies旗下子公司,是国防和工业应用智能传感解决方案的优秀领先者,在全球拥有约4000名员工。公司成立于1978年,一直专注于设计、开发、生产、营销和推广用于增强态势感知力的专业技术。通过红外热成像、可见光成像、视频分析、测量和诊断以及先进的威胁检测系统,帮助专业人士做出更好、更快的决策,拯救生命,改善生活。欲了解更多信息,请访问www.teledyneflir.com或关注“菲力尔”微信公众号。

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