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E800在芯片缺陷检测中的应用
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行业背景

半导体作为一种电子元件,在现代电子技术中应用广泛,是大部分电子设备的核心部分,包括集成电路、太阳能电池、光电器件、传感器等。在人工智能、5G、IOT等技术快速发展的环境下,众多行业开启了数字化转型之路,这也带来了庞大的半导体市场需求。随着半导体市场的不断发展,半导体生产工序逐渐增多。因此,高效的检测设备成了贯穿半导体制造过程中不可或缺的一部分,以确保生产高效、准确。

系统需求

以芯片制造为例,芯片生产需要经历多道复杂的工序,其中各工艺流程环环相扣。芯片生产对材料、环境、工艺参数等敏感,每个环节都有可能产生缺陷。芯片生产流程主要包括芯片设计、制造、封装和检测4 大环节,上述数道工艺的操作控制、工艺参数、环境等因素都会对芯片质量产生一定的影响,产生多种不同缺陷,比如异物、划伤、Bump 元件缺陷(凸起、错位或缺失)、金属性污染物和蚀刻液脏污残留等。芯片外观缺陷检测对机器视觉检测设备具有如下需求:

  1. 缺陷形态各异:近年来,集成电路的结构日趋复杂,制作工序逐渐增多,尺寸越来越小,产生的缺陷也相应缩小且具有不同的形状,这对于机器视觉检测提出了更高的要求;
  2. 检测背景复杂:在检测中,缺陷区域与背景区域的差别度小,干扰因素大;
  3. 持续高速检测:由于芯片的材料特性,整个视觉检测流程都要保证无接触、无损失,同时为了不影响生产,需要保证高速、精准且持续的检测。

 

产品介绍

 

卓信创驰E800系列,专为半导体制造应用需求而设计。具有如下特性:

  • 基于Intel 第十代Comet Lake-S平台处理器
  • 2 x DDR4 SO-DIMM内存插槽,最高支持64GB
  • 1 x DP, 1 x VGA, 1 x HDMI
  • 2 x Intel i226-V GbE LAN
  • 8 x USB 3.0
  • 2 x RS-232, 2 x RS-232/422/485
  • 1 x PCIe Gen3 x16, 1 x PCIe Gen2 x4扩展插槽

产品架构

E800是机器视觉检测设备的“大脑”,作为视觉软件运行的支撑。E800基于Intel 第十代Comet Lake-S平台处理器,采用H420E/Q470芯片组,多核多线程,CPU性能更强大,实时、流畅地处理和分析采集到的数据。E800采用了的独特的多USB和多串口的接口设计,8个USB 3.0接口(包括6个原生USB 3.1),可同时连接多个USB相机和传感器,支持数据高速传输;4个串口支持RS-232/422/485灵活配置,采用内部拨码开关切换,用户可以根据应用需求灵活选择;2个由Intel独立网卡芯片控制的以太网接口,可用来连接网口相机;3个显示接口分别支持DP, VGA和HDMI显示屏。此外,E800还配有2个PCIe插槽,用户可选择连接扩展卡进一步扩展接口。

产品应用优势

  1. 算力强大、流畅高效:E800基于Intel第10代Comet Lake平台处理器,具有强大的数据处理能力,为视觉软件分析处理图像提供了良好的算力支撑,可以快速地计算、输出结果;
  2. 接口丰富、扩展多样:E800具有多个高速USB接口和串口,能兼容不同的软硬件及终端设备,可同时控制多台相机进行拍摄,多个方位对产品进行高速检测,提高检测效率;
  3. 实时检测、高精度:基于强大的算力,E800支持对采集到的数据进行实时处理分析,精确地输出检测结果,帮助企业提升生产效率和提高产品良率。
  4. 紧凑坚固、持续稳定:E800采用工业级主板以及坚固的金属外壳,经过多种工业测试验证,能够持续在工业环境下稳定运行。

 

状 态: 离线

公司简介
产品目录
供应信息

公司名称: 深圳市卓信创驰技术有限公司
联 系 人: 杨飞剑
电  话: +86-15999643460
传  真:
地  址: 南山区龙珠三路45号南山睿园17栋6层
邮  编: 518000
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