西克应用 | 激光测距OD200和IO-Link网关SIG300搭配实现的多种应用

2025/10/31 16:36:22

  西克应用

  概述

  本期为大家带来激光测距传感器OD200和IO-Link网关SIG300搭配实现的多种应用。

  西克的SIG300内置逻辑编辑器搭配一体化激光位移传感器OD200可轻松集成,实现多点位位移测量和平整度、轮廓度等复杂难题,广泛应用于汽车、3C、消费品等众多行业。

  产品特点

 

  圆盘平整度检测—

  SIG300+OD200解决方案

  应用场景:圆盘的平整度检测

  检测内容:检测带轴圆盘平整度是否符合要求。

  应用难点:客户希望能直接得到检测结果,同时圆盘为半透明塑料材质,对测距传感器稳定性和性能有较高要求,抵抗半透明材质干扰。

  系统结构图:

 

  平面度检测

  系统优势

  高稳定性测量性能:OD200 具备优异的抗干扰能力,即使面对高反光、深色或半透明等复杂材质,也能保持稳定、精确的测距表现。

  智能数据处理:SIG300内置逻辑编辑器,可在设备内部完成多点数据计算、判断与结果输出,无需上位机额外编程,实现“即插即用”的快速部署。

  系统集成简便:整套方案结构紧凑、接口统一,支持标准化通信输出,便于客户直接整机移植与扩展。

  可拓展多场景应用:通过简单配置即可适配平面度、厚度、轮廓等多种检测任务,提升系统的通用性与投资回报率。

  轮廓度检测

 

  在线质量监控

 

  总结

  SIG300 搭配 OD200/OD2000 的方案,充分体现了SICK 在智能检测领域的高集成度与高性能优势。

  通过 SIG300 的多通道数据采集与逻辑处理功能,结合 OD 系列激光测距传感器的高精度与强抗干扰特性,可快速构建多种非接触式测量系统,实现从平面度检测、厚度测量到多点轮廓检测等多样化应用。

  该组合方案不仅部署简单、结果直观、接口统一,还可大幅减少客户在数据处理与系统集成方面的工作量,助力用户在汽车、3C、消费品等行业实现高效、可靠、智能化的质量控制与过程监测。

  SICK

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