三.混合信号测试呼唤IC测试新技术

混合信号测试总线是测试数字和模拟信号的起点，但不是解决问题的全部方案。

集 成电路制造商希望找到一种测试方法，既能确保产品高质量，又能使成本合算，换句活说，测试一种使合格产品产量最大、次品减至最低的方式。随着越来越多的 核，无论是存储器、逻辑电路、锁相环即射频IC核都集成到系统级芯片中。目前，制造商几乎找不到一种满意的自动测试设备来测试它们。现有的测试没备还不能 测试像锁相环等模似/混全信号器件。现在的一些器件是数字的，但却有大量的模拟特性，这就对测试设备提出了新的测试需求。对此，模拟与混合佶号核目前还没 有明确的测试方案。而数字测试系统能使用基于扫描的测试方法来测试其内部特性。数字测试大部分是结构性测试，它能检测开路，短路和逻辑状态。而模拟测试多 半是有关特性的功能测试，它能检査器件的工作是否正常。一个方案就是将IC测试过 程分散到整个制造过程中，把成本分散开。确定在毎一级（晶片、芯、衬底、板、系统和最终产品）应该监视什么。对混合信号IC的模拟部分必须采用复杂的高精 度的功能测试。唯一明确的答案是对芯片的模拟部分的功能进行直接测量。然而， 混合信号测试系统太昂贵,定价高达100—300万美元，因 为它包括模拟与数字测试设备。

四、嵌入核IC测试标准急需系统推出

现在芯片设计的一个重点是系统級芯片。这种IC将重复 使用已设计好的功能复杂的电路模块，即嵌入核，也称为IP模块或虚拟部件。对包括两个或多个厂商提供的嵌入核的IC的可测性来说，还没有一个标准。每一个 核提供商都在其产品上设计了一些可测性电路。然而，如果没有单独定义的、公开的可测性设计方法，核集成商不能自动检测毎一核的可测性，也不能对它们进行集 成。

IEEE P1500是测试嵌入核的推荐标准。它已正式称为基于嵌入核的IC的P1500标准可测性方法。P1500工作组为重复使用IP模块的IC制定了个标准可测性方法。该标准的概念在干具有独立性，即嵌入核具有自测试电路, 在功能上与整个IC或其它嵌入核无关。

IEEE P1500的目的是确定检测与诊断这类IC故障的可测性要求，同时使不同厂商提供的核易于交互。可测性设计方法的结果是自动识别和配置含嵌人式核的IC的可测性特性。该方法适合各类数字嵌入式核。