12 位 ADC 读同一路信号，理论分辨率 1mV 级，实测却跳十几个码。问题多半不在 ADC 本身，而在基准、滤波与走线这三处。本文按排查顺序给出具体做法与常见数值。

一、先看基准，别急着怀疑 ADC

很多人拿万用表量 3.3V 电源，看到 3.30V 就认为基准没问题。实际上 ADC 用的是基准脚电压，不是电源电压。如果基准直接接电源，电源纹波会一比一进入读数。

三个具体检查：

- 基准脚旁边有没有 0.1µF + 10µF 的组合；只有 0.1µF 时低频纹波抑制不够；

- 基准用的是内部基准还是外部基准。内部基准的初始精度常见 ±1%，温漂几十 ppm/℃，12 位 ADC 配 1% 基准，等于把 12 位浪费成 7 位；

- 基准脚上有没有其他负载。基准被拿去驱动别的东西，读数会跟着那个负载一起跳。

一个能立刻验证的办法：把 ADC 输入短接到地，连续采 1000 点看码值分布。如果地短路时码值还在跳 ±5，说明问题在基准或采样时序，与传感器、线缆无关。

二、滤波要放在正确的位置

RC 滤波是最常用的手段，但位置和参数经常放错。

- 位置：RC 要放在 ADC 输入脚旁边，不是放在传感器输出端。放在传感器端，中间那根线照样收噪声；放在 ADC 脚旁边，噪声在进入引脚之前就被削掉。

- 参数：截止频率按信号带宽的 5–10 倍取。测温度这种慢变量，信号带宽不到 1Hz，R=10kΩ、C=1µF 就够（截止约 16Hz）；但同样的参数用在测电流的场合（要看 50Hz 纹波），会把有用信号一起滤掉。

- 代价：R 太大会和 ADC 的采样电容形成分压。多数单片机 ADC 要求源阻抗在几 kΩ 以内，R 取 10kΩ 时，采样时间要相应加长，否则读数偏低。这一条在数据手册的"外部输入阻抗"一节里写着，很少有人翻。

三、走线：模拟部分最容易被数字部分带坏

同一块板上，ADC 走线和数字信号走线的关系，直接决定读数稳不稳。

- 模拟走线不要从晶振、开关电源电感、继电器驱动管下方穿过；

- 模拟地与数字地单点连接，连接点选在 ADC 芯片下方的地焊盘，不要在两处各连一次；

- 多路采样时，每路的走线长度尽量一致，否则通道之间的偏差会变成"系统性误差"，校准也校不平。

四、软硬结合的两个小技巧

1. 采样时刻避开开关动作。继电器吸合、MOS 开关瞬间，电源上会有几十毫伏的塌陷，此时采样必然异常。把采样放在开关动作之后 1–2ms，跳码会明显减少。

2. 用过采样换分辨率。连续采 16 次求平均，等效多 2 位；但前提是噪声是随机的，如果噪声来自 50Hz 工频，平均反而会把干扰固化成偏移，这时要先做 50Hz 陷波或用整周期采样。

五、一个真实的排查顺序

地短路看基准 → 单点采样看跳幅 → 加 RC 看变化 → 换通道看是否单路问题 → 断开负载看是否被负载带动。五步走完，八成问题能定位到具体那一处，而不是笼统地"ADC 不准"。

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