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• ▪ 芯片测试技术
• ▪ CPU线宽制程技术
• ▪ CPU内部连线技术
• ▪ CPU封装与芯片测试技术
• ▪ 芯片测试的目的分类
• ▪ 半导体芯片测试插座
• ▪ IC测试座自动组装装置及其方法
• ▪ 探针卡制作与测试探针选材
• ▪ 探针测试卡
• ▪ 芯片测试
• ▪ 芯片制造概述
• ▪ 射频IC版图设计
• ▪ SOC芯片测试技术的发展趋势及挑战
• ▪ 四探针测试中的边缘修正问题
• ▪ 最新的IC测试座工作频率已经可以达到10GHz
• ▪ 芯片测试概论