一、
CH-1-S型薄膜测厚仪简介
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、主要技术参数
1、量 程:0-1mm
2、分 度 值:0.001mm
3、上测头曲率半径:15-50mm
4、测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
5、测量精度:100μm以内<1μm
100-250μm<2μm
250μm<3μm
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